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X射線電鍍鍍層無損測厚儀

韓國Micro Pioneer 先鋒XRF-2000測厚儀

檢測電鍍層厚度，可檢測鍍金，鍍銀，鍍鎳，鍍錫，鍍鋅，鍍鉻，鍍鈀等
可測量單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層

單鍍層：如銅上鍍鎳，銅上鍍銀，銅上鍍錫，鐵上鍍鎳等，不限底材
雙鍍層：銅上鍍鎳鍍金，鐵上鍍銅鍍鎳等
多鍍層：鐵上鍍銅鍍鎳鍍銀，銅上鍍鎳鍍鈀鍍金等
合金鍍層：銅上鍍鋅鎳等

XRF-2000X射線電鍍鍍層無損測厚儀

儀器配置
全自動臺面

自動雷射對焦

多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品）
測量樣品高度不超過3cm(亦有10CM可選)
鍍層厚度測試范圍：0.04－35um
可測試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
測量時間：15秒
 

韓國Micro Pioneer XRF-2020鍍層測厚儀測試范圍   

鍍金：0.03-6um

鍍鈀：0.03-6um

鍍鎳：0.5-30um

鍍錫：0.3-50um

鍍銀：0.1-50um

鍍鉻：0.5-30um

鍍銅：0.5-30um

鍍鋅：0.5-30um

鍍鋅鎳合金：0.5-30um

韓國先鋒XRF-2020測厚儀應用：

檢測電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導體等電鍍層厚度

可測量鍍金,鍍銀.鍍鋅.鍍鎳,鍍錫.鍍鉻,鍍鋅鎳等

可測試單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層厚度